Коллектив молодых ученых под руководством д.ф.-м.н. Дорохина М.В. стал победителем конкурса РФФИ ("Стабильность")
Объявление о семинаре М.А. Моховикова (Белорусский государственный университет)
Молодые ученые НИФТИ ННГУ стали лауреатами Стипендий им. академика Г.А. Разуваева на 2019/2020 учебный год!
ННГУ вошёл в международный рейтинг 2020 THE World University Rankings by subject по направлению «Физические науки»
РФФИ поддержал международный проект под руководством проф. Тетельбаума Д.И. в области перспективных полупроводниковых материалов
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495
с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350
Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).
Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)
Характеристики микроскопа:
- Максимальное увеличение: ×300 000,
- Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
- Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
- Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
- Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.
Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.
Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.