Поздравляем студентов и аспирантов с успешным выступлением на XXVI Нижегородской сессии молодых ученых!

Читать далее
02.06.2021

Семинар Яковлевой Е.А. (ЦНИИ КМ Прометей) по материалам кандидатской диссертации (18.05.2021 г.)

Читать далее
17.05.2021

Опубликованы результаты исследований уникального полупроводника, выполненные коллективом НИФТИ ННГУ совместно с зарубежными партнерами

Читать далее
07.04.2021

Поздравляем победителей конкурса РНФ!

Читать далее
31.03.2021

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495

с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350

 

JEOL JSM-6495

 

Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).

Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)

Характеристики микроскопа:

  • Максимальное увеличение: ×300 000,
  • Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
  • Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
  • Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
  • Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.

      Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.

Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.