Российский научный фонд объявляет о начале приема заявок на конкурс отдельных научных групп и ведущих лабораторий мирового уровня

Читать далее
01.10.2020

Сегодня в 16:00 состоится онлайн-встреча Елены Загайновой с трудовым коллективом, которая пройдёт на площадке YouTube.

Читать далее
09.09.2020

Совет по грантам Президента Российской Федерации объявляет о начале приема заявок на получение стипендий Президента РФ и грантов для молодых ученых - кандидатов и докторов наук.

Читать далее
03.09.2020

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495

с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350

 

JEOL JSM-6495

 

Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).

Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)

Характеристики микроскопа:

  • Максимальное увеличение: ×300 000,
  • Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
  • Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
  • Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
  • Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.

      Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.

Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.