Сменар Малинкиной Ю.Ю. (ЦНИИ КМ Прометей) по материалам кандидатской диссертации (22.01.2021 г.)
Сводные данные о результатах СОУТ и перечень мероприятий по улучшению условий труда
Парк науки ННГУ "Лобачевский Lab" приглашает всех на научно-популярный фестиваль "Холодный Weekend" (23-24 января 2021 г.)
Поздравляем аспирантов и молодых ученых с получением Стипендий Президента РФ!
Поздравляем аспирантов с Разуваевскими стипендиями!
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495
с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350
Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).
Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)
Характеристики микроскопа:
- Максимальное увеличение: ×300 000,
- Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
- Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
- Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
- Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.
Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.
Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.