Автоматический рентгеновский монокристальный дифрактометр Oxford Diffraction Gemini S

Назначение: монокристальные и порошковые рентгеновские исследования кристаллических материалов; исследования атомных структур металлорганических кристаллов на основе комплексов переходных и поливалентных химических элементов; прецизионные рентгеновские исследования разупорядоченных неорганических кристаллов применяемых в лазерной технике.

Характеристики установки:

• Четырехкружный каппа-гониометр
• Максимальный угол дифракции: 2Θ = 156⁰
• Излучения: MoK_α и CuK_α (графитовый монохроматор)
• CCDдетектор Sapphire III 90×90 мм, размер пикселя: 31 мкм
• Диапазон температур съемки: 90 – 490 К (CryoJetHT)

Исследовательская задача: изучение строения кристаллического вещества; исследование функции распределения электронной плотности в кристаллических материалах.

Прикладная задача: определение симметрии, параметров элементарной ячейки кристаллов, положений атомов, параметров тепловых колебаний и заселенностей атомов. Определение качественных и количественных фазовых соотношений компонентов в гетерогенных системах, сплавах и смесях.