17 сентября 2021 г. состоится Ученый совет НИФТИ ННГУ
Совет по грантам Президента РФ объявляет о начале приема заявок на получение стипендий и грантов Президента РФ
Семинар Рязанцевой В.В. по материалам кандидатской диссертации (06.09.2021, 10:30)
Рентгеновский монокристальный дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVER (XRD) для исследования тонкопленочных структур
(Bruker, Германия)
Назначение: прецизионные исследования, контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок (толщиной от 1 нм), эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.
Характеристики установки:
В поликристаллических объектах рентгенодифракционный анализ позволяет:
- проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси)
- определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений
- определение типа и состава твердого раствора
- определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)
В монокристаллических образцах (в том числе в образцах, представляющих собой эпитаксиальные слои и гетероструктуры) XRD обеспечивает возможность оценить следующие параметры:
- определение ориентировки кристалла
- определение периода идентичности в определенном кристаллографии-ческом направлении
- толщины слов
- степень структурного совершенства (дефектность)
- период сверхрешётки
- состав твёрдого раствора
- качество (гладкость) интерфейсов
- напряжение решётки.
На дифрактометре D8 DISCOVER методом рентгеновской рефлектометрии исследуется:
- шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер неоднородностей – менее 5 нм),
- толщину слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм),
- распределение плотности электронов,
- внутреннее строение сложных структур.