Семинар проф. Я.Д. Сергеева "Численные вычисления с бесконечно-малыми и бесконечно-большими числами: методология и приложения" состоится 04 марта 2019 г. в конференц-зле НИФТИ ННГУ.
Начало: 15:00

Читать далее
04.03.2019

15 февраля 2019 г., в 14 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ состоится семинар Перевислова С.Н. на тему "Материалы на основе карбида и нитрида кремния для изделий конструкционного назначения. Динамические свойства брони на основе карбида кремния и карбида бора".

Читать далее
13.02.2019

Семинар "Физика мемристоров в НИФТИ ННГУ" пройдет 14 февраля 2019 г. (четверг), в конференц-зале НИФТИ ННГУ.
Начало  - 15 часов.

Читать далее
11.02.2019

Издана юбилейная книга "НИФТИ ННГУ 85 лет: 1932-2017 г."

Читать далее
28.12.2018

27.12.2018 г., в 210 ауд., в 13:30 состоится семинар "Селективные ингибиторы BET-семейства белков - новый подход в эпигенетической терапии онкологических заболеваний".

Читать далее
25.12.2018

Атомная и реальная структура кристаллов, исследование физических свойств кристаллов при неоднородных воздействиях

 

Ответственный исполнитель НИР по направлению: Лаборатория рентгено-дифракционных и электронно-микроскопических методов исследования (Лаборатория 2.7)

 

1. Рентгеновская оптика

2. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

3. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия

4. Рентгеновская рефлектометрия

 

 

 

 

1. Рентгеновская оптика

 

В НИФТИ достаточно интенсивно ведутся исследования в области рентгеновской оптики. История развития этого направления неразрывно связана с исследованиями в области управляемой рентгеновской оптики, проводимыми сотрудниками лаборатории рентгеноструктурного анализа НИФТИ и кафедры кристаллографии и экспериментальной физики (КЭФ) физического факультета ННГУ под руководством Е.В. Чупрунова. Данное направление стало активно развиваться с момента получения результатов по модуляции интенсивности рентгеновских пучков, которые в дальнейшем легли в основу проводимых нами исследований. Нами была исследована возможность формирования пространственной структуры рентгеновских пучков, корректировки их сходимости, а также управления дисперсионными свойствами кристаллов. Полученные результаты имеют большое значение  для развития управляемой рентгеновской оптики, основанной на тепловом воздействии света на рентгенодифракционные параметры кристаллов. По результатам работы были получены 2 авторских свидетельства на изобретение и три патента. Разработанные способы управления параметрами рентгеновских пучков могут быть использованы:

- для модуляции рентгеновских пучков;

- в методах интегральной диагностики совершенства кристаллов;

- в системах рентгеновской фокусирующей оптики для корректировки сходимости рентгеновских пучков;

- в рентгеновской спектроскопии и дифрактометрии для управления дисперсионными свойствами кристаллов;

Результаты исследований могут также найти применение в радиологии для создания систем формирования пространственно неоднородного распределения интенсивности в рентгеновском пучке с целью локализованного и дозированного воздействия на биологическую ткань. Такие системы позволяют формировать пространственно- временную структуру рентгеновских пучков для локализованного воздействия на биологические ткани. В сочетании с монохроматизацией рентгеновского излучения такие системы позволяют в несколько раз снизить дозу облучения и повысить информативность рентгеновских снимков. Кроме того, они могут быть использованы в телемедицине для дистанционного проведения радиологических сеансов.

 

 

 

2. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

 

Имеющееся в НИФТИ оборудование позволяет решать разного рода задачи, к числу которых относятся:

  • проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси)
  • определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений
  • определение типа и состава твердого раствора
  • определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)

 

 


3. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия (XRXRD)

В монокристаллических образцах (в том числе в образцах представляющих собой эпитаксиальные слои и гетероструктуры) XRXRD обеспечивает возможность оценить следующие параметры:

  • определение ориентировки кристалла
  • определение периода идентичности в определенном кристаллографическом направлении
  • толщины слов
  • степень структурного совершенства (дефектность)
  • период сверхрешётки
  • состав твёрдого раствора
  • качество (гладкость) интерфейсов
  • напряжение решётки.

 

 


4. Рентгеновская рефлектометрия

 

Методом рентгеновской рефлектометрии исследуется:

  • Шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер  неоднородностей – менее 5 нм),
  • Толщина слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм),
  • Распределение плотности электронов,
  • Внутреннее строение сложных структур.