18 октября состоится семинар "Органические мемристорные приборы и нейроморфные системы" (докладчик - Ерохин В.В., Курчатовский комплекс НБИКС-технологий)

Читать далее
16.10.2018

2 октября 2018 г., в 14 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ, состоится семинар "Перспективные полимеры и их применение" (докладчик - д.х.н., проф. Хаширова С.Ю.).

Читать далее
01.10.2018

20 сентября 2018 г. состоится семинар производителя рентгеновских анализаторов PULSTEC INDUSTRIAL на тему "Рентгеновский контроль остаточных напряжений методом cosα"

Читать далее
18.09.2018

Коллектив НИФТИ ННГУ поздравляет Чувильдеева Владимира Николаевича с юбилеем!

Читать далее
04.09.2018

24 августа 2018 г., в 13 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ состоится семинар Ю.В. Благовещенского, посвященный технологии плазмохимического синтеза нанопорошков.

Читать далее
23.08.2018

Атомная и реальная структура кристаллов, исследование физических свойств кристаллов при неоднородных воздействиях

 

Ответственный исполнитель НИР по направлению: Лаборатория рентгено-дифракционных и электронно-микроскопических методов исследования (Лаборатория 2.7)

 

1. Рентгеновская оптика

2. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

3. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия

4. Рентгеновская рефлектометрия

 

 

 

 

1. Рентгеновская оптика

 

В НИФТИ достаточно интенсивно ведутся исследования в области рентгеновской оптики. История развития этого направления неразрывно связана с исследованиями в области управляемой рентгеновской оптики, проводимыми сотрудниками лаборатории рентгеноструктурного анализа НИФТИ и кафедры кристаллографии и экспериментальной физики (КЭФ) физического факультета ННГУ под руководством Е.В. Чупрунова. Данное направление стало активно развиваться с момента получения результатов по модуляции интенсивности рентгеновских пучков, которые в дальнейшем легли в основу проводимых нами исследований. Нами была исследована возможность формирования пространственной структуры рентгеновских пучков, корректировки их сходимости, а также управления дисперсионными свойствами кристаллов. Полученные результаты имеют большое значение  для развития управляемой рентгеновской оптики, основанной на тепловом воздействии света на рентгенодифракционные параметры кристаллов. По результатам работы были получены 2 авторских свидетельства на изобретение и три патента. Разработанные способы управления параметрами рентгеновских пучков могут быть использованы:

- для модуляции рентгеновских пучков;

- в методах интегральной диагностики совершенства кристаллов;

- в системах рентгеновской фокусирующей оптики для корректировки сходимости рентгеновских пучков;

- в рентгеновской спектроскопии и дифрактометрии для управления дисперсионными свойствами кристаллов;

Результаты исследований могут также найти применение в радиологии для создания систем формирования пространственно неоднородного распределения интенсивности в рентгеновском пучке с целью локализованного и дозированного воздействия на биологическую ткань. Такие системы позволяют формировать пространственно- временную структуру рентгеновских пучков для локализованного воздействия на биологические ткани. В сочетании с монохроматизацией рентгеновского излучения такие системы позволяют в несколько раз снизить дозу облучения и повысить информативность рентгеновских снимков. Кроме того, они могут быть использованы в телемедицине для дистанционного проведения радиологических сеансов.

 

 

 

2. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

 

Имеющееся в НИФТИ оборудование позволяет решать разного рода задачи, к числу которых относятся:

  • проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси)
  • определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений
  • определение типа и состава твердого раствора
  • определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)

 

 


3. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия (XRXRD)

В монокристаллических образцах (в том числе в образцах представляющих собой эпитаксиальные слои и гетероструктуры) XRXRD обеспечивает возможность оценить следующие параметры:

  • определение ориентировки кристалла
  • определение периода идентичности в определенном кристаллографическом направлении
  • толщины слов
  • степень структурного совершенства (дефектность)
  • период сверхрешётки
  • состав твёрдого раствора
  • качество (гладкость) интерфейсов
  • напряжение решётки.

 

 


4. Рентгеновская рефлектометрия

 

Методом рентгеновской рефлектометрии исследуется:

  • Шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер  неоднородностей – менее 5 нм),
  • Толщина слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм),
  • Распределение плотности электронов,
  • Внутреннее строение сложных структур.