Пресс-релиз Индикатор.ру и сайта ННГУ о результатах совместных исследований НИФТИ ННГУ и АО "ОКБМ Африкантов" по разработке новых титановых сплавов для атомного машиностроения

Читать далее
04.07.2019

Аспиранты и молодые ученые НИФТИ ННГУ стали победителями конкурса на получение стипендий Президента РФ молодым ученым и аспирантам, осуществляющим исследования и разработки по приоритетным направлениям модернизации российской экономики на 2019-2021 годы.

Читать далее
03.07.2019

Поздравляем зав.лаб. технологии керамик Болдина М.С. с защитой кандидатской диссертации!

Читать далее
07.06.2019

Поздравляем сотрудников Отдела №2 с победой в конкурсе РФФИ (конкурс "мк", тема 26-903 «Фундаментальные проблемы создания элементной базы энергонезависимой резистивной памяти для нейроморфных систем»)

Читать далее
03.06.2019

Поздравляем аспирантов Отдела №5 с победой на 24й Нижегородской сессии молодых ученых (технические, естественные, математические науки)

Читать далее
28.05.2019

Атомная и реальная структура кристаллов, исследование физических свойств кристаллов при неоднородных воздействиях

 

Ответственный исполнитель НИР по направлению: Лаборатория рентгено-дифракционных и электронно-микроскопических методов исследования (Лаборатория 2.7)

 

1. Рентгеновская оптика

2. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

3. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия

4. Рентгеновская рефлектометрия

 

 

 

 

1. Рентгеновская оптика

 

В НИФТИ достаточно интенсивно ведутся исследования в области рентгеновской оптики. История развития этого направления неразрывно связана с исследованиями в области управляемой рентгеновской оптики, проводимыми сотрудниками лаборатории рентгеноструктурного анализа НИФТИ и кафедры кристаллографии и экспериментальной физики (КЭФ) физического факультета ННГУ под руководством Е.В. Чупрунова. Данное направление стало активно развиваться с момента получения результатов по модуляции интенсивности рентгеновских пучков, которые в дальнейшем легли в основу проводимых нами исследований. Нами была исследована возможность формирования пространственной структуры рентгеновских пучков, корректировки их сходимости, а также управления дисперсионными свойствами кристаллов. Полученные результаты имеют большое значение  для развития управляемой рентгеновской оптики, основанной на тепловом воздействии света на рентгенодифракционные параметры кристаллов. По результатам работы были получены 2 авторских свидетельства на изобретение и три патента. Разработанные способы управления параметрами рентгеновских пучков могут быть использованы:

- для модуляции рентгеновских пучков;

- в методах интегральной диагностики совершенства кристаллов;

- в системах рентгеновской фокусирующей оптики для корректировки сходимости рентгеновских пучков;

- в рентгеновской спектроскопии и дифрактометрии для управления дисперсионными свойствами кристаллов;

Результаты исследований могут также найти применение в радиологии для создания систем формирования пространственно неоднородного распределения интенсивности в рентгеновском пучке с целью локализованного и дозированного воздействия на биологическую ткань. Такие системы позволяют формировать пространственно- временную структуру рентгеновских пучков для локализованного воздействия на биологические ткани. В сочетании с монохроматизацией рентгеновского излучения такие системы позволяют в несколько раз снизить дозу облучения и повысить информативность рентгеновских снимков. Кроме того, они могут быть использованы в телемедицине для дистанционного проведения радиологических сеансов.

 

 

 

2. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов

 

Имеющееся в НИФТИ оборудование позволяет решать разного рода задачи, к числу которых относятся:

  • проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси)
  • определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений
  • определение типа и состава твердого раствора
  • определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)

 

 


3. Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия (XRXRD)

В монокристаллических образцах (в том числе в образцах представляющих собой эпитаксиальные слои и гетероструктуры) XRXRD обеспечивает возможность оценить следующие параметры:

  • определение ориентировки кристалла
  • определение периода идентичности в определенном кристаллографическом направлении
  • толщины слов
  • степень структурного совершенства (дефектность)
  • период сверхрешётки
  • состав твёрдого раствора
  • качество (гладкость) интерфейсов
  • напряжение решётки.

 

 


4. Рентгеновская рефлектометрия

 

Методом рентгеновской рефлектометрии исследуется:

  • Шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер  неоднородностей – менее 5 нм),
  • Толщина слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм),
  • Распределение плотности электронов,
  • Внутреннее строение сложных структур.