В еженедельнике "Аргументы и факты" (АиФ-Нижний Новгород) вышло интервью с А.Михайловым, зав. лабораторией физики и технологии тонких пленок НИФТИ ННГУ

Читать далее
16.08.2018

В НИФТИ ННГУ с использованием ионной имплантации разработан уникальный УФ-детектор нечувствительный к солнцу (solar-blind photodetector)

Читать далее
14.08.2018

В еженедельнике "Аргументы и факты" (АиФ-Нижний Новгород) вышло интервью с М. Денисенко, зав. лабораторией Теории наноструктур НИФТИ ННГУ

Читать далее
07.08.2018

Коллектив НИФТИ ННГУ поздравляет аспирантов физического факультета ННГУ - сотрудников НИФТИ ННГУ с победой в конкурсе на получение стипендий им. академика Г.А. Разуваева на 2018-2019 учебный год!

Читать далее
03.08.2018

Коллектив НИФТИ ННГУ поздравляет своих сотрудников - молодых кандидатов наук с победой в Президентской программе исследовательских проектов РНФ!

Читать далее
03.07.2018

Комплект оборудования для исследования наноструктур методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

 

Комплект включает:

а) Систему приготовления поперечного среза образцов наноструктур (Gatan);

б) Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100F-08 (JEOL, Япония);

в) Локальный энергодисперсионный анализатор состава образцов INCAEnergyTEM 250 Х-Мах.

 

Назначение:проведение полного и единого цикла исследований широкого спектра материалов и объектов методом просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения; локальный фазовый анализ объектов в режиме микро- и нанопучковой дифракции; получение изображения объектов в режиме сканирующего просвечивающего электронного микроскопа.

 

Объекты исследований: твердотельные наноструктуры (многослойные, волокнистые, порошкообразные и пр.); металлы; керамики; сыпучие материалы, такие как углеродные нанотрубки.

 

Характеристики установки (микроскоп JEM-2100F-08):

  • Ускоряющее напряжение: 80 - 200 кВ;
  • Пространственное разрешение:
    при измерениях межплоскостных расстояний кристаллической решетки - 1,1 Å,
    при анализе отдельно стоящих объектов - 1.9 Ǻ
    при энерго-дисперсионных измерениях -  7 Ǻ.
  • Диаметр электронного пучка: в режиме ПЭМ  2-5 нм; в аналитических режимах 0.5-2.4 нм.
  • Микроскоп оснащен системой элементного анализа объектов методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.