Коллектив под руководством зав.лаб. Нохрина А.В. стал победителем конкурса РФФИ-Росатом

Читать далее
30.05.2020

Поздравляем зав. лаб. Нохрина А.В. с победой в конкурсе Российского научного фонда

Читать далее
10.04.2020

28 февраля 2020 года, в 13 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ, состоится заседание Ученого совета НИФТИ ННГУ

Читать далее
26.02.2020

Зав. лаб. Болдин М.С. был награжден Почетной грамотой Министерства образования, науки и молодежной политики Нижегородской области за достигнутые результаты в развитии научно-образовательного комплекса Нижегородской области

Читать далее
11.02.2020

Комплект оборудования для исследования наноструктур методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

 

Комплект включает:

а) Систему приготовления поперечного среза образцов наноструктур (Gatan);

б) Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100F-08 (JEOL, Япония);

в) Локальный энергодисперсионный анализатор состава образцов INCAEnergyTEM 250 Х-Мах.

 

Назначение:проведение полного и единого цикла исследований широкого спектра материалов и объектов методом просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения; локальный фазовый анализ объектов в режиме микро- и нанопучковой дифракции; получение изображения объектов в режиме сканирующего просвечивающего электронного микроскопа.

 

Объекты исследований: твердотельные наноструктуры (многослойные, волокнистые, порошкообразные и пр.); металлы; керамики; сыпучие материалы, такие как углеродные нанотрубки.

 

Характеристики установки (микроскоп JEM-2100F-08):

  • Ускоряющее напряжение: 80 - 200 кВ;
  • Пространственное разрешение:
    при измерениях межплоскостных расстояний кристаллической решетки - 1,1 Å,
    при анализе отдельно стоящих объектов - 1.9 Ǻ
    при энерго-дисперсионных измерениях -  7 Ǻ.
  • Диаметр электронного пучка: в режиме ПЭМ  2-5 нм; в аналитических режимах 0.5-2.4 нм.
  • Микроскоп оснащен системой элементного анализа объектов методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.