Семинар проф. Я.Д. Сергеева "Численные вычисления с бесконечно-малыми и бесконечно-большими числами: методология и приложения" состоится 04 марта 2019 г. в конференц-зле НИФТИ ННГУ.
Начало: 15:00

Читать далее
04.03.2019

15 февраля 2019 г., в 14 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ состоится семинар Перевислова С.Н. на тему "Материалы на основе карбида и нитрида кремния для изделий конструкционного назначения. Динамические свойства брони на основе карбида кремния и карбида бора".

Читать далее
13.02.2019

Семинар "Физика мемристоров в НИФТИ ННГУ" пройдет 14 февраля 2019 г. (четверг), в конференц-зале НИФТИ ННГУ.
Начало  - 15 часов.

Читать далее
11.02.2019

Издана юбилейная книга "НИФТИ ННГУ 85 лет: 1932-2017 г."

Читать далее
28.12.2018

27.12.2018 г., в 210 ауд., в 13:30 состоится семинар "Селективные ингибиторы BET-семейства белков - новый подход в эпигенетической терапии онкологических заболеваний".

Читать далее
25.12.2018

Комплект оборудования для исследования наноструктур методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

 

Комплект включает:

а) Систему приготовления поперечного среза образцов наноструктур (Gatan);

б) Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100F-08 (JEOL, Япония);

в) Локальный энергодисперсионный анализатор состава образцов INCAEnergyTEM 250 Х-Мах.

 

Назначение:проведение полного и единого цикла исследований широкого спектра материалов и объектов методом просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения; локальный фазовый анализ объектов в режиме микро- и нанопучковой дифракции; получение изображения объектов в режиме сканирующего просвечивающего электронного микроскопа.

 

Объекты исследований: твердотельные наноструктуры (многослойные, волокнистые, порошкообразные и пр.); металлы; керамики; сыпучие материалы, такие как углеродные нанотрубки.

 

Характеристики установки (микроскоп JEM-2100F-08):

  • Ускоряющее напряжение: 80 - 200 кВ;
  • Пространственное разрешение:
    при измерениях межплоскостных расстояний кристаллической решетки - 1,1 Å,
    при анализе отдельно стоящих объектов - 1.9 Ǻ
    при энерго-дисперсионных измерениях -  7 Ǻ.
  • Диаметр электронного пучка: в режиме ПЭМ  2-5 нм; в аналитических режимах 0.5-2.4 нм.
  • Микроскоп оснащен системой элементного анализа объектов методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.