Пресс-релиз Индикатор.ру и сайта ННГУ о результатах совместных исследований НИФТИ ННГУ и АО "ОКБМ Африкантов" по разработке новых титановых сплавов для атомного машиностроения

Читать далее
04.07.2019

Аспиранты и молодые ученые НИФТИ ННГУ стали победителями конкурса на получение стипендий Президента РФ молодым ученым и аспирантам, осуществляющим исследования и разработки по приоритетным направлениям модернизации российской экономики на 2019-2021 годы.

Читать далее
03.07.2019

Поздравляем зав.лаб. технологии керамик Болдина М.С. с защитой кандидатской диссертации!

Читать далее
07.06.2019

Поздравляем сотрудников Отдела №2 с победой в конкурсе РФФИ (конкурс "мк", тема 26-903 «Фундаментальные проблемы создания элементной базы энергонезависимой резистивной памяти для нейроморфных систем»)

Читать далее
03.06.2019

Поздравляем аспирантов Отдела №5 с победой на 24й Нижегородской сессии молодых ученых (технические, естественные, математические науки)

Читать далее
28.05.2019

Комплект оборудования для исследования наноструктур методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

 

Комплект включает:

а) Систему приготовления поперечного среза образцов наноструктур (Gatan);

б) Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100F-08 (JEOL, Япония);

в) Локальный энергодисперсионный анализатор состава образцов INCAEnergyTEM 250 Х-Мах.

 

Назначение:проведение полного и единого цикла исследований широкого спектра материалов и объектов методом просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения; локальный фазовый анализ объектов в режиме микро- и нанопучковой дифракции; получение изображения объектов в режиме сканирующего просвечивающего электронного микроскопа.

 

Объекты исследований: твердотельные наноструктуры (многослойные, волокнистые, порошкообразные и пр.); металлы; керамики; сыпучие материалы, такие как углеродные нанотрубки.

 

Характеристики установки (микроскоп JEM-2100F-08):

  • Ускоряющее напряжение: 80 - 200 кВ;
  • Пространственное разрешение:
    при измерениях межплоскостных расстояний кристаллической решетки - 1,1 Å,
    при анализе отдельно стоящих объектов - 1.9 Ǻ
    при энерго-дисперсионных измерениях -  7 Ǻ.
  • Диаметр электронного пучка: в режиме ПЭМ  2-5 нм; в аналитических режимах 0.5-2.4 нм.
  • Микроскоп оснащен системой элементного анализа объектов методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.