Комплект оборудования для исследования наноструктур методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ)

Комплект включает:

а) Систему приготовления поперечного среза образцов наноструктур (Gatan);

б) Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения JEM-2100F-08 (JEOL, Япония);

в) Локальный энергодисперсионный анализатор состава образцов INCAEnergyTEM 250 Х-Мах.

Назначение:проведение полного и единого цикла исследований широкого спектра материалов и объектов методом просвечивающей электронной микроскопии сверхвысокого разрешения; локальный фазовый анализ объектов в режиме микро- и нанопучковой дифракции; получение изображения объектов в режиме сканирующего просвечивающего электронного микроскопа.

Объекты исследований: твердотельные наноструктуры (многослойные, волокнистые, порошкообразные и пр.); металлы; керамики; сыпучие материалы, такие как углеродные нанотрубки.

Характеристики установки (микроскоп JEM-2100F-08):

• Ускоряющее напряжение: 80 - 200 кВ;
• Пространственное разрешение:
  при измерениях межплоскостных расстояний кристаллической решетки - 1,1 Å,
  при анализе отдельно стоящих объектов - 1.9 Ǻ, 
  при энерго-дисперсионных измерениях -  7 Ǻ.
• Диаметр электронного пучка: в режиме ПЭМ  2-5 нм; в аналитических режимах 0.5-2.4 нм.
• Микроскоп оснащен системой элементного анализа объектов методом энергодисперсионной рентгеновской спектроскопии.