Поздравляем зав.лаб. технологии керамик Болдина М.С. с защитой кандидатской диссертации!

Читать далее
07.06.2019

Поздравляем сотрудников Отдела №2 с победой в конкурсе РФФИ (конкурс "мк", тема 26-903 «Фундаментальные проблемы создания элементной базы энергонезависимой резистивной памяти для нейроморфных систем»)

Читать далее
03.06.2019

Поздравляем аспирантов Отдела №5 с победой на 24й Нижегородской сессии молодых ученых (технические, естественные, математические науки)

Читать далее
28.05.2019

Cеминар "Photonics at Skoltech – from fundamentals to applications" ("Фотоника в Сколтехе - от основ к приложениям") состоится 24 мая 2019 г., в 14 ч.

Читать далее
22.05.2019

Младший научный сотрудник Юрий Кузнецов стал победителем фестиваля "Иннобизнес: Умные технологии", проводившегося 14 мая 2019 г. в ННГУ.

Читать далее
16.05.2019

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495

с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350

 

JEOL JSM-6495

 

Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).

Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)

Характеристики микроскопа:

  • Максимальное увеличение: ×300 000,
  • Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
  • Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
  • Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
  • Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.

      Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.

Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.