Коллектив под руководством зав.лаб. Нохрина А.В. стал победителем конкурса РФФИ-Росатом

Читать далее
30.05.2020

Поздравляем зав. лаб. Нохрина А.В. с победой в конкурсе Российского научного фонда

Читать далее
10.04.2020

28 февраля 2020 года, в 13 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ, состоится заседание Ученого совета НИФТИ ННГУ

Читать далее
26.02.2020

Зав. лаб. Болдин М.С. был награжден Почетной грамотой Министерства образования, науки и молодежной политики Нижегородской области за достигнутые результаты в развитии научно-образовательного комплекса Нижегородской области

Читать далее
11.02.2020

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495

с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350

 

JEOL JSM-6495

 

Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).

Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)

Характеристики микроскопа:

  • Максимальное увеличение: ×300 000,
  • Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
  • Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
  • Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
  • Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.

      Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.

Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.