Сводные данные о результатах СОУТ и перечень мероприятий по улучшению условий труда

Читать далее
15.01.2021

Парк науки ННГУ "Лобачевский Lab" приглашает всех на научно-популярный фестиваль "Холодный Weekend" (23-24 января 2021 г.)

Читать далее
12.01.2021

Поздравляем аспирантов и молодых ученых с получением Стипендий Президента РФ!

Читать далее
29.12.2020

Поздравляем аспирантов с Разуваевскими стипендиями!

Читать далее
28.12.2020

Поздравляем молодых кандидатов наук с грантами Президента РФ!

Читать далее
24.12.2020

Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6495

с рентгеновским микроанализатором Oxford Instruments INCA-350

 

JEOL JSM-6495

 

Назначение: исследование топографии поверхности и химического состава образцов; исследование зёренной дислокационной структуры и локального фазового анализа (нанодифракция).

Объекты исследований: нано- и микрокристаллические металлы, сплавы и керамики; трубные стали (шлифы, порошки, поверхности изломов преимущественно проводящих материалов)

Характеристики микроскопа:

  • Максимальное увеличение: ×300 000,
  • Диапазон ускоряющих напряжений: до 30 кэВ,
  • Площадь детектора микроанализатора: 10 мм2,
  • Разрешение микроанализатора: 133 эВ на пике 5,5 кэВ
  • Разрешение растрового микроскопа: 3 нм.

      Модель растрового электронного микроскопа JSM-6495LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, входящий в комплект, позволяет изучать объекты диаметром до 20 см.

Решаемые исследовательские задачи: исследование и измерение параметров микро- и макроструктуры металлов, сплавов и керамик.
Прикладные задачи: аттестация структур материалов.