Пресс-релиз Индикатор.ру и сайта ННГУ о результатах совместных исследований НИФТИ ННГУ и АО "ОКБМ Африкантов" по разработке новых титановых сплавов для атомного машиностроения

Читать далее
04.07.2019

Аспиранты и молодые ученые НИФТИ ННГУ стали победителями конкурса на получение стипендий Президента РФ молодым ученым и аспирантам, осуществляющим исследования и разработки по приоритетным направлениям модернизации российской экономики на 2019-2021 годы.

Читать далее
03.07.2019

Поздравляем зав.лаб. технологии керамик Болдина М.С. с защитой кандидатской диссертации!

Читать далее
07.06.2019

Поздравляем сотрудников Отдела №2 с победой в конкурсе РФФИ (конкурс "мк", тема 26-903 «Фундаментальные проблемы создания элементной базы энергонезависимой резистивной памяти для нейроморфных систем»)

Читать далее
03.06.2019

Поздравляем аспирантов Отдела №5 с победой на 24й Нижегородской сессии молодых ученых (технические, естественные, математические науки)

Читать далее
28.05.2019

Рентгеновский монокристальный дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVER (XRD) для исследования тонкопленочных структур

(Bruker, Германия)

 

Назначение: прецизионные исследования, контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок (толщиной от 1 нм), эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

 

Характеристики установки:

В поликристаллических объектах рентгенодифракционный анализ позволяет:

  • проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси)
  • определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений
  • определение типа и состава твердого раствора
  • определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)

 

В монокристаллических образцах (в том числе в образцах, представляющих собой эпитаксиальные слои и гетероструктуры) XRD обеспечивает возможность оценить следующие параметры:

  • определение ориентировки кристалла
  • определение периода идентичности в определенном кристаллографии-ческом направлении
  • толщины слов
  • степень структурного совершенства (дефектность)
  • период сверхрешётки
  • состав твёрдого раствора
  • качество (гладкость) интерфейсов
  • напряжение решётки.

 

На дифрактометре D8 DISCOVER методом рентгеновской рефлектометрии исследуется:

  • шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер неоднородностей – менее 5 нм),
  • толщину слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм),
  • распределение плотности электронов,
  • внутреннее строение сложных структур.