Семинар проф. Я.Д. Сергеева "Численные вычисления с бесконечно-малыми и бесконечно-большими числами: методология и приложения" состоится 04 марта 2019 г. в конференц-зле НИФТИ ННГУ.
Начало: 15:00

Читать далее
04.03.2019

15 февраля 2019 г., в 14 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ состоится семинар Перевислова С.Н. на тему "Материалы на основе карбида и нитрида кремния для изделий конструкционного назначения. Динамические свойства брони на основе карбида кремния и карбида бора".

Читать далее
13.02.2019

Семинар "Физика мемристоров в НИФТИ ННГУ" пройдет 14 февраля 2019 г. (четверг), в конференц-зале НИФТИ ННГУ.
Начало  - 15 часов.

Читать далее
11.02.2019

Издана юбилейная книга "НИФТИ ННГУ 85 лет: 1932-2017 г."

Читать далее
28.12.2018

27.12.2018 г., в 210 ауд., в 13:30 состоится семинар "Селективные ингибиторы BET-семейства белков - новый подход в эпигенетической терапии онкологических заболеваний".

Читать далее
25.12.2018

Рентгеновский монокристальный дифрактометр высокого разрешения D8 DISCOVER (XRD) для исследования тонкопленочных структур

(Bruker, Германия)

 

Назначение: прецизионные исследования, контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок (толщиной от 1 нм), эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

 

Характеристики установки:

В поликристаллических объектах рентгенодифракционный анализ позволяет:

  • проведение фазового анализа (идентификация веществ по данным о межплоскостных расстояниях и определение их соотношений в смеси)
  • определение параметров элементарной ячейки индивидуальных соединений
  • определение типа и состава твердого раствора
  • определение размеров областей когерентного рассеяния (блоков мозаики)

 

В монокристаллических образцах (в том числе в образцах, представляющих собой эпитаксиальные слои и гетероструктуры) XRD обеспечивает возможность оценить следующие параметры:

  • определение ориентировки кристалла
  • определение периода идентичности в определенном кристаллографии-ческом направлении
  • толщины слов
  • степень структурного совершенства (дефектность)
  • период сверхрешётки
  • состав твёрдого раствора
  • качество (гладкость) интерфейсов
  • напряжение решётки.

 

На дифрактометре D8 DISCOVER методом рентгеновской рефлектометрии исследуется:

  • шероховатость поверхностей и границ раздела сред (типичный размер неоднородностей – менее 5 нм),
  • толщину слоя материала (обычно для слоев тоньше 200 нм),
  • распределение плотности электронов,
  • внутреннее строение сложных структур.