Обновлены сведения о ходе выполнения проектов в 2014-2016 гг. в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 - 2020 годы»

Читать далее
16.11.2016

Обновлены сведения о ходе выполнения проектов в 2014-2016 гг. в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 - 2020 годы».

 

Читать далее
16.11.2016

17 июня 2016 г. (пятница) в 16:20 в конференц-зале НИФТИ ННГУ состоится расширенный семинар отдела «Физики металлов» НИФТИ ННГУ и кафедры физического материаловедения ННГУ по материалам диссертации Малова В.С. на соискание ученой степени кандидата технических наук. Приглашаются все желающие!

Читать далее
16.06.2016

Обновлены сведения о ходе выполнения проектов в 2015 г. в рамках федеральной целевой программы «Исследования и разработки по приоритетным направлениям развития научно-технологического комплекса России на 2014 - 2020 годы»

Читать далее
26.04.2016

Система для исследования гальваномагнитных и оптических свойств полупроводниковых структур

 на базе гелиевого криостата замкнутого цикла Janis CCS-300S/202 (Janis Research Company, США).

 

Установка для исследования гальваномагнитных свойств

Janis CCS-300S 

 

Назначение: исследование гальваномагнитных свойств, эффекта Холла, магниторезистивного эффекта, электро- и фотолюминесценции структур полупроводниковой спинтроники.

 

Объекты исследования: полупроводниковые гетеронаноструктуры

 

Оптическая часть установки включает в себя:

  • монохроматор МДР-3
  • оптический немагнитный стол Standa (Литва),
  • фотоприемное устройство с Ge ПЗС линейкой TorLabs (США),
  • фотоприемное устройство InGaAs ПЗС линейка Hamamatsu (Япония).

Возможно проведение исследований (электролюминесценции, фотолюминесценции) в диапазоне длин волн 0.7 - 4 мкм.

 

Для исследования гальваномагнитных свойств установка содержит:

  • электромагнит (напряженность магнитного поля до 4000 Э) позволяющий осуществлять развертку по магнитному полю,
  • источник - измеритель Keithley 2400 (США),
  • источник - измеритель Agilent U2722A (США),
  • вспомогательное оборудования для автоматизации процессов исследования.

 

Криостат Janis 300S позволяет осуществлять исследования оптических и транспортных свойств при низких температурах.

Характеристики криостата:

  • Диапазон температур: 10 – 295 К
  • Точность установки температуры: 100 мК