Семинар проф. Я.Д. Сергеева "Численные вычисления с бесконечно-малыми и бесконечно-большими числами: методология и приложения" состоится 04 марта 2019 г. в конференц-зле НИФТИ ННГУ.
Начало: 15:00

Читать далее
04.03.2019

15 февраля 2019 г., в 14 часов, в конференц-зале НИФТИ ННГУ состоится семинар Перевислова С.Н. на тему "Материалы на основе карбида и нитрида кремния для изделий конструкционного назначения. Динамические свойства брони на основе карбида кремния и карбида бора".

Читать далее
13.02.2019

Семинар "Физика мемристоров в НИФТИ ННГУ" пройдет 14 февраля 2019 г. (четверг), в конференц-зале НИФТИ ННГУ.
Начало  - 15 часов.

Читать далее
11.02.2019

Издана юбилейная книга "НИФТИ ННГУ 85 лет: 1932-2017 г."

Читать далее
28.12.2018

27.12.2018 г., в 210 ауд., в 13:30 состоится семинар "Селективные ингибиторы BET-семейства белков - новый подход в эпигенетической терапии онкологических заболеваний".

Читать далее
25.12.2018

Ионно-лучевая установка ИЛУ-200 (разработка НИФТИ)

 

ИЛУ-200

 

     Назначение: модификация приповерхностных свойств твердых тел и тонких пленок, легирование полупроводников, ионно-лучевой синтез захороненных сплошных слоев и наноструктур, инженерия дефектов, а также формирование приборных слоев и структур микро-, нано- и оптоэлектроники.

 

Характеристики установки:

-       имплантируемые примеси: H, He, B, C, N, F, Ne, Si, P, Ar, As, Ga, Ge.   

-       рабочее вещество для получения ионов: газ, твердое тело.

-       максимальная масса иона: до 75 а.е.

-       энергия ионов: 50-160 кэВ.

-       ионный ток: до 500 мкА в зависимости от энергии и типа ионов.

-       облучаемая площадь: до 30×30 мм2.

-       однородность легирования: не хуже 10%.

-       возможность загрузки до 5 пластин диаметром 30 мм.

-       пределы концентраций: от 10-6 ат.% до 30 ат.%.

-       контроль профилей распределения с помощью выбора энергий ионов.

-       оснащена спектроскопической системой PGT Quantum System 4004X с детектором мягкого рентгеновского излучения IGX50129 (спектральный диапазон 180 эВ – 100 кэВ, разрешение 129 эВ при 5,9 кэВ), что позволяет исследовать химический состав, структуру и дефекты в кристаллах и упорядоченных системах непосредственно при ионном облучении.

 

     Атомы внедряемой примеси ионизируются в источнике ионов, позволяющем получить пучки ионов различных веществ. Экстрагированный из источника и сфокусированный электростатической линзой  ионный пучок ускоряется полем секционной трубки и разделяется по массам электромагнитным анализатором. Взаимодействуя с атомами мишени, ионы многократно рассеиваются, теряют энергию и останавливаются на некотором расстоянии от поверхности, обычно на глубинах 0,01-1 мкм.

 

     В последние годы получены наноматериалы, представляющие собой тонкие пленки оксидных диэлектриков (SiO2, SiO2-GeO2, Al2O3, ZrO2), содержащие массивы полупроводниковых нанокластеров или нанокристаллов (Si, SixC, SixGey), сформированные путем имплантации в исходный материал фазообразующих ионов и последующего отжига при температураз 500-1200 0С. Спектр оптического излучения материалов в видимом и ближнем ИК-диапазоне зависит от размеров нанокластеров, химического состава оксидной матрицы, и управляется путем вариации параметров ионной имплантации и отжига. Впервые установлена возможность улучшения люминесценции квантовых точек Si при ионном легировании фосфором. Предложен принципиально новый способ ионно-лучевого формирования люминесцирующих наноструктур путем облучения кремния ионами в области доз, переходных к аморфизации. Наноматериалы могут быть применены при создании устройств интегральной оптики, опто- и наноэлектроники, фотовольтаики а также в медицине.